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日本日置電池阻抗分析儀 BT4560 鋰電池的可靠性判斷 10秒 ● 低頻AC-IR*測(cè)量，測(cè)量時(shí)間短 　*使用1Hz以下的低頻測(cè)量?jī)?nèi)阻的話不需要充放電 ● 也能精確*測(cè)量低阻電池 　*改善S/N比，在3mΩ量程下測(cè)試電流為1.5A ● 電路結(jié)構(gòu)較難受到接觸電阻和布線電阻的影響，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)量 ● 同時(shí)測(cè)量阻抗和電壓

日本日置 300MHz阻抗分析儀 IM7581-01/02 較快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻 ● 測(cè)量頻率1MHz~300MHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

日本日置 300MHz阻抗分析儀 IM7580A-1/2 較快0.5ms，高速、高穩(wěn)定測(cè)量，節(jié)省空間的半個(gè)機(jī)架大小 ● 測(cè)量頻率1MHz~300MHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

日本日置 600MHz阻抗分析儀 IM7583-01/02 高速、高穩(wěn)定性測(cè)量，提高生產(chǎn)量！測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms ● 測(cè)量頻率：1MHz~600MHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）

日本日置 1.3GHz阻抗分析儀 IM7585-01/02 高速、高穩(wěn)定性測(cè)量，提高生產(chǎn)量！測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms，測(cè)量值偏差0.07% ● 測(cè)量頻率：1MHz~1.3GHz ● 測(cè)量時(shí)間：較快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間） ● 測(cè)量值偏差：0.07%（測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭僅手掌大小